石墨电极电阻率标准在线咨询,冠测精电(优质商家)

符合半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法。

2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。

3、电阻率测量范围复盖较常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能）

    方块电阻测量范围复盖较常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能）

4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。

5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；

    整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。

    测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。

6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。

7、可配用多种探针间距的四探针头：1.00mm、1.59mm。

仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。主机主要由数控恒流源，石墨电极材料电阻率的测试精华，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入；具有零位、满度自校功能；全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！      探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配**探头，也可测试电池较片等箔上涂层电阻率方阻。

主要用途：

主要应用于石墨电极电阻率测试，可以测量不同直径和长度的石墨电极，携带方便，微型结构，便于手持，测量数据精度高，显示快，是石墨电极厂家*检测仪器

技术参数:

1、工作频率:60 KHz

2、电导率测量范围:0-100μΩ

3、测量精度:±1%（温度在0℃~40℃）

4、 提离效应:100μm

5、自动补偿功能:电导率测量结果自动矫正为20℃数值